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Path: Home>Prodotti>Taylor-Hobson>Profilometri-a-non-contatto>CCI HD Profilometri per misure di film sottili
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CCI HD
Per misure di film sottili

Il nuovo CCI HD, leader mondiale, unisce capacità di misurazione dimensionale senza contatto con tecnologia avanzata di film sottili e spessi.

Il CCI HD offre risultati con prestazioni leader del settore...

  • Misurazione dello spessore film da 5 micron fino a 50 nm
  • Fotocamera per l'immagine ad alta risoluzione da 4 MegaPixel
  • AutoRange e AutoFringeFind per la facilità d'uso
  • Singola modalità di funzionamento per tutti gli intervalli di scansione dati
  • Meccanismo di scansione Z forte, stabile e robusto

Gli ultimi interferometri possono ora utilizzare campi di riflessione da diversi strati di una superficie rivestita per misurare lo spessore e la ruvidezza dei rivestimenti. Possono essere utilizzati due diversi approcci, a seconda dello spessore del rivestimento.
Il CCI HD è stato progettato per offrire entrambi i tipi di misurazione spessore film in aggiunta a capacità di misure dimensionali e di rugosità. È ora possibile studiare rivestimenti di film sottile fino a 50 nm (dipendente anche dall’indice di rifrazione) di interferometria. Questo nuovo approccio consente lo studio delle proprietà quali lo spessore del film, rugosità interfaccia, difetti e delaminazione delle superfici rivestite, tutto da un'unica misurazione.

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